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淺析薄膜電容器使用常見故障和解決方法

        薄膜電容器具有許多優(yōu)良特性，無極性、絕緣電阻高、頻率特性優(yōu)良（頻率響應寬）、介電損耗低。因此，薄膜電容器廣泛用于模擬電路。薄膜電容的電流運行是有規(guī)律的，在使用薄膜電容時，我們會發(fā)現(xiàn)電流異常。這個時候，我們應該如何處理這個問題。
        薄膜電容器容易出現(xiàn)故障
        薄膜電容器的制造和極化類似于鋁電解電容器的制造方法，但其儲存時間不受限制，可以在沒有直流極性的情況下長時間工作。瞬時反向電壓一般不會損壞電容器，但鋁電解電容器不同。
        在實際應用中，并不總是存在直流偏置電壓。也可制造無極性鉭電容，但價格較貴，存放后可能無法使用。如果兩個相同的鉭電容背對背串聯(lián)連接，就可以得到一個無極性的電容?？傠娙轂槊總€串聯(lián)電容的一半，即C/2。
        接通性能好的薄膜電容器時，萬用表的指針應有較大的擺動；薄膜電容容量越大，針的擺幅越大。擺動后，針可逐漸回到零位。 .如果在通電的瞬間萬用表的指針不擺動，則說明電容器無效或開路；如果指針一直指示電源電壓而沒有擺動，則表明電容器已短路；如果指針擺動正常，則不會歸零。 ，這說明電容有漏電流現(xiàn)象。
         1、范圍內電流選擇不當
        范圍內電流選擇不當，產生較多位置的是直流維持和簡諧振動部分。如果要求的電流值大于薄膜電容器的允許電流值，就會引起薄膜電容器的發(fā)熱效應。長期高溫運行會使薄膜電容器的使用壽命大大降低，甚至可能發(fā)生爆炸甚至著火。在配置測試中，允許通過專用電流探頭或其他方法測量實際所需的峰值電流，然后調整電容器的參數(shù)?？稍诠β仕p測試中配置，對薄膜電容器的溫升進行測量，根據(jù)薄膜電容器的允許溫升參數(shù)識別薄膜電容器設備的選擇是否合適。
        二、不當?shù)慕泳€方法
        接線方式不當，關鍵在于薄膜電容的多路并聯(lián)使用。由于布線方法和布線間隔的不同，電子電路中每個并聯(lián)薄膜電容器的分流器是不同的。表現(xiàn)為多個薄膜電容并聯(lián)，每個的溫升不一樣。一些地方的薄膜電容器溫升過高，造成損壞事故。因此，對于薄膜電容器的并聯(lián)運行，需要進行適當?shù)慕泳€和連接，盡可能做到平均，提高薄膜電容器的使用壽命。
        三、電壓超出規(guī)定范圍
        超出規(guī)定范圍的電壓，產生最多的方面是簡諧振動部分。開發(fā)者應根據(jù)配置的功率、輸入電壓、電路拓撲、負載磁導率、電子電路Q因數(shù)等參數(shù)綜合考慮后初步規(guī)劃。樣機開始滿足條件后，實際測量輸出功率配置時薄膜電容兩側的電峰值和串聯(lián)諧振參數(shù)，進一步判斷所用薄膜電容的型號和參數(shù)是否符合要求準確的。
        筆墨電容故障案例分析及解決方法
        我曾經在400V開關中使用過PGJ1-5無功補償屏。屏內有10個BCMJ并聯(lián)電容器，每個電容器的額定輸出為16kVar，額定電壓為0 . 4kV，額定電流25A，溫度類別-25C/45C連接。對這兩起事故的原因進行了認真分析和*處理。
        失敗原因
        環(huán)境溫度高
        該無功補償屏安裝在400V開關柜內。房間內有8個開關柜，面積為30m2。對面是SZ7-800kVA 35kV/0.4變壓器室。整體通風條件差，熱十字開關室內溫度高達48C以上。可見，環(huán)境溫度高是造成電容器爆炸的原因之一。補償屏應移至單獨的通風控制室，并在電容器外側張貼蠟片（溫度指示片）。值班人員可以要求地面從顯示的溫度中監(jiān)測電容介質的溫度。
        電壓極不穩(wěn)定
        由公式QC=2π fCV2可知：電容器的無功容量與電壓的平方成正比。當電壓下降時，電容器的無功容量會與電音樂的平方成正比下降，即電容器的容量沒有得到充分利用。當工作電壓升高時，電容器的溫升會增加，甚至會破壞電容器的熱平衡，導致電容器爆炸。因此，由于標準規(guī)定：電容器允許在1.1倍額定電壓下長時間運行，但每24小時內以1.15倍額定電壓運行的時間不得超過30分鐘。
        電壓極不穩(wěn)定，電壓波動范圍為0. 9Ue － 1.15Ue（Ue為400V的額定電壓），谷底期間功耗常在450V左右，運行時間長達Th。這是造成電容器爆炸和燒毀的第二個原因。由于SZ7-800kVA電力變壓器是有載調壓儀表，解決這個問題只需要一臺KYT-2型有載調壓控制器，投資即可隨時控制電壓不到一千元。對于額定電壓
        諧波電流的存在
        采用大功率可檢測整流器作為旋轉密集直流電源與補償屏并聯(lián)工作。由于接入電網(wǎng)的晶閘管器件客觀運行，起到高次諧波發(fā)生器的作用，會引起電路電壓和電流的波形畸變。諧波電流的存在往往會導致電容器出現(xiàn)異常噪聲，嚴重時會導致電容器膨脹。這是電容器爆炸的第三個原因。造成這種情況的主要原因有：（1）高次諧波電流疊加在基波電流上，使電容器的總電流增加：（2）系統(tǒng)電感與被控端之間產生一定的高次諧波。電容器的容抗。并聯(lián)諧振使流入電容器的電流忠實地增加： (3) 電容器內部對某一高次諧波發(fā)生部分串聯(lián)諧振，造成過載。
        措施
        為了防止這些情況的發(fā)生，可以在補償電容器組的每一相串聯(lián)一個空心電抗器來限制電流。電容器電路的組合電抗成為高次諧波的感抗。在高次諧波被子中，3次諧波被變壓器的三角洲連續(xù)壓著短路，所以這是1：1對5次諧波的測量。如果選擇串聯(lián)電抗器當5次諧波的電抗發(fā)生共振時，5次諧波短路。對于5次諧波鈹以上的高次諧波，由于電容電路變?yōu)楦行裕ㄐ蔚玫礁纳?，根樹：消除諧振的可能性。反諧振串聯(lián)空心電抗器的電抗可計算：
        表示 XL "49% XC
        其中： L-串聯(lián)電抗器的電感，H：
         C-補償電容的容量，F(xiàn)：
         XL One-串聯(lián)電抗器的感抗，Q：
         XC——補償電容的容抗，0。
        可以看出串聯(lián)電抗器的電抗約為容抗的4%以上：OK?？紤]到系統(tǒng)頻率較低，出現(xiàn)$時電容器的容量會降低。實際上，感抗為 5% 至 6% XC。